思謀集團(tuán)旗下安思智造首創(chuàng)高端Mini LED光學(xué)缺陷檢測一體機(jī) - 深度融合思謀的智能工業(yè)平臺 SMore ViMo 2.0 與智能化打光方案，一體化實(shí)現(xiàn)了針對高端屏顯的雙環(huán)節(jié)智能化檢測。該設(shè)備在 Mini LED 的封裝環(huán)節(jié)中可同時(shí)進(jìn)行外觀檢測與點(diǎn)亮檢測，能夠準(zhǔn)確檢測出偏移、錫膏、亮度、缺焊等10多種缺陷特征，漏檢率僅為0.05%，并可在0.005毫米的精度要求下，達(dá)到 1000 ㎜2/秒的檢測速度。此外，該設(shè)備采用標(biāo)準(zhǔn)的 SMEMA 接口，可與自動(dòng)返修設(shè)備無縫對接，實(shí)現(xiàn)雙環(huán)節(jié)檢測的數(shù)據(jù)打通，有效追溯造成缺陷的源頭工序，通過智檢大數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)了制造工藝全流程的反向提升。

Mini LED是OLED后新出現(xiàn)的顯示技術(shù)。因?yàn)槠渚邆涓咔逦⒏鲿?、低功耗、色彩豐富的特點(diǎn)，被認(rèn)識是目前最適合作為元宇宙“入口”的顯示技術(shù)，需求量激增。然而，Mini LED 面板晶片普遍不足0.1毫米，晶片體積小、布局密，質(zhì)檢難度極高，檢測精度和效率一直難以提升，成為Mini LED大規(guī)模量產(chǎn)和應(yīng)用的瓶頸。

思謀安思Mini LED 光學(xué)缺陷檢測一體機(jī)不僅能夠?qū)?nbsp;Mini LED面板進(jìn)行智能化檢測，還“能上能下”：可以無縫兼容傳統(tǒng)的直顯 LCD 面板的質(zhì)檢，更可滿足晶片體積不足30納米的Micro LED 面板的嚴(yán)苛檢測需求，全面提升了高端屏顯的質(zhì)檢能力，助推屏顯行業(yè)的快速發(fā)展。

目前，該設(shè)備已在國內(nèi)多家Mini LED 精密制造企業(yè)的產(chǎn)線上線，用于檢測頭部消費(fèi)電子廠商基于Mini LED屏顯的旗艦產(chǎn)品。對于高端技術(shù)與產(chǎn)品而言，可靠的質(zhì)量是其“命門”，作為次時(shí)代顯示技術(shù)的“把關(guān)”者，思謀始終致力于將計(jì)算機(jī)視覺技術(shù)落地于高端質(zhì)檢，不斷以智能檢測助力前沿制造業(yè)的加速發(fā)展，共創(chuàng)次時(shí)代視覺生態(tài)。

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